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半導體制冷實驗儀
一、概 述
半導體制冷實驗儀采用半導體制冷片（帕爾帖）作為實驗對象，可以研究半導體制冷片的制冷特性，并驗證帕爾帖效應和塞貝克效應。
二、特 點
1.半導體制冷片（帕爾帖）作為熱泵來演示熱泵工作原理，觀察制冷片冷端結露、結冰全過程，驗證帕爾帖效應；
2.半導體制冷片（帕爾帖）亦可作為熱機來演示熱機工作原理，發出穩定直流電，驅動直流電機轉動和LED發光，驗證塞貝克效應。
三、配置及技術性能
實驗儀由半導體制冷片、帶風扇高性能散熱器、加熱器、溫度控制裝置、溫度測量裝置、直流數字電壓表、直流數字電流表等組成。
半導體制冷片：帕爾帖
(1) *大溫差電流Imax（A）：5.0
(2) *大溫差△Tmax（℃）（QC=OW）：67
(3) *大工作電壓U（V）：15.4
(4) *大產冷功率Qcmax（W）（△T=0℃）：41
(5) PN結對數：127
(6) 外形尺寸（L×B×H）：40mm×40mm×4.1mm
帶風扇高性能散熱器：額定電壓：12VDC，額定電流：0.21A±10%。
加熱器: 純鋁，導熱性能好，外加防護罩，實驗安全可靠。
PID智能溫度調節器 測溫范圍：-20.0～220.0℃，溫度顯示*小分辨率：0.1℃，測溫精度：±0.2℃。具有 PID智能溫度控制加AI人工智能調節功能，可控硅調節輸出，根據實驗要求設定溫度控制值。溫度控制范圍：室溫～80℃，控溫精度：±0.5℃。
直流數字電壓表：測量范圍0～20V，三位半數碼顯示，精度0.5級。輸入阻抗為10MΩ。
直流數字電流表：測量范圍0～10A，三位半數碼顯示，精度0.5級。
四、實驗項目
(一)半導體冷端結冰實驗（驗證帕爾帖效應）
半導體制冷片負載特性測試實驗
半導體制冷特性測試實驗
半導體制冷*大制冷系數測試實驗
半導體制冷結露、結冰現象演示實驗
半導體制熱特性測試實驗
(二)半導體溫差發電實驗（驗證塞貝克效應）
半導體制冷、發電組合實驗
半導體發電特性測試實驗
卡諾效率測試實驗
半導體發電帶負載演示實驗
半導體制冷實驗儀采用半導體制冷片（帕爾帖）作為實驗對象，可以研究半導體制冷片的制冷特性，并驗證帕爾帖效應和塞貝克效應。
二、特 點
1.半導體制冷片（帕爾帖）作為熱泵來演示熱泵工作原理，觀察制冷片冷端結露、結冰全過程，驗證帕爾帖效應；
2.半導體制冷片（帕爾帖）亦可作為熱機來演示熱機工作原理，發出穩定直流電，驅動直流電機轉動和LED發光，驗證塞貝克效應。
三、配置及技術性能
實驗儀由半導體制冷片、帶風扇高性能散熱器、加熱器、溫度控制裝置、溫度測量裝置、直流數字電壓表、直流數字電流表等組成。
半導體制冷片：帕爾帖
(1) *大溫差電流Imax（A）：5.0
(2) *大溫差△Tmax（℃）（QC=OW）：67
(3) *大工作電壓U（V）：15.4
(4) *大產冷功率Qcmax（W）（△T=0℃）：41
(5) PN結對數：127
(6) 外形尺寸（L×B×H）：40mm×40mm×4.1mm
帶風扇高性能散熱器：額定電壓：12VDC，額定電流：0.21A±10%。
加熱器: 純鋁，導熱性能好，外加防護罩，實驗安全可靠。
PID智能溫度調節器 測溫范圍：-20.0～220.0℃，溫度顯示*小分辨率：0.1℃，測溫精度：±0.2℃。具有 PID智能溫度控制加AI人工智能調節功能，可控硅調節輸出，根據實驗要求設定溫度控制值。溫度控制范圍：室溫～80℃，控溫精度：±0.5℃。
直流數字電壓表：測量范圍0～20V，三位半數碼顯示，精度0.5級。輸入阻抗為10MΩ。
直流數字電流表：測量范圍0～10A，三位半數碼顯示，精度0.5級。
四、實驗項目
(一)半導體冷端結冰實驗（驗證帕爾帖效應）
半導體制冷片負載特性測試實驗
半導體制冷特性測試實驗
半導體制冷*大制冷系數測試實驗
半導體制冷結露、結冰現象演示實驗
半導體制熱特性測試實驗
(二)半導體溫差發電實驗（驗證塞貝克效應）
半導體制冷、發電組合實驗
半導體發電特性測試實驗
卡諾效率測試實驗
半導體發電帶負載演示實驗
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